Описание
Конфокальный микроскоп лазерной спектроскопии ICX представляет собой субмикронный прибор, предназначенный для высокоточного обнаружения и анализа поверхностей, а также для измерения параметров микро- и наноструктур.
Измерительный модуль прибора основан на технологии спектральной конфокальной микроскопии, которая обеспечивает бесконтактное измерение высоты различных материалов с высокой степенью точности. В сочетании с модулем сканирования в плоскости XY, оснащенным системой обратной связи, и алгоритмами 3D-визуализации, данный микроскоп позволяет детально анализировать микроструктуры поверхности. Многофункциональный модуль постобработки графической информации предоставляет возможности для гибкой обработки изображений, проведения 3D-анализа, контурного анализа, оценки шероховатости и других видов анализа.
Лазерные спектроскопические конфокальные микроскопы серии ICX находят широкое применение в различных областях, включая прецизионную механическую обработку, исследование поверхностей, изучение процессов трения и износа, разработку новых материалов, создание топливных элементов, производство микроэлектромеханических систем (MEMS), изготовление полупроводниковых пластин, оптическое производство высокой точности, испытания деталей, микрожидкостные технологии, мембранные структуры, микро- и нанодобавки и другие направления.
Характеристики
| Источник освещения | синий лазер 450 нм |
| Принцип сканирования | конфокальная лазерная спектроскопия |
| Среднеквадратичная повторяемость: | 0,05% |
| Среднеквадратичная точность: | 0,1% |