Толщиномер покрытий X-STRATA 920

Толщиномер X-STRATA 920 представляет собой рентгенофлуоресцентный спектрометр, предназначенный для быстрого и неразрушающего определения толщины покрытий и элементного состава в различных материалах с возможностью микрофокусировки.

Микрофокусная рентгеновская трубка генерирует интенсивный поток рентгеновского излучения. В сочетании с коллимацией первичного пучка это обеспечивает формирование узконаправленного рентгеновского луча. Данная конфигурация позволяет проводить высокоточный анализ малых образцов или тонких структур.

Диапазон определяемых элементов варьируется от алюминия (Al) до урана (U), в зависимости от используемых детекторных систем. Аналитическая глубина включает до 5 слоев, включая базовый слой. Одновременно могут быть определены до 25 элементов.

Мониторинг содержания металлов в растворах является ключевым элементом обеспечения качества гальванических процессов. Отклонение фактических концентраций металлов от заданных параметров может привести к возникновению дефектов на поверхности обрабатываемых деталей. Для решения данной задачи применяется аналитическое оборудование X-TRATA 90, которое предназначено для анализа состава растворов, мониторинга и контроля концентраций элементов в электролитах гальванических ванн.