D8 ADVANCE

В рентгеновском дифрактометре D8 ADVANCE реализована принципиально новая концепция построения модульных систем DAVINCI.DESIGN, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брэгга-Брентано к параллельно-лучевой оптике осуществляется максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гебеля, переключение между которыми происходит автоматически. Новая рентгеновская TWIST-трубка позволяет производить переключение между точечным и линейным фокусом. Дифрактометр D8 ADVANCE дает возможность проводить исследования материалов в различных условиях: охлаждать их до температуры 10 К, нагревать до 2000 °С, создавать условия с повышенной влажностью. При анализе в комнатных условиях специальные загрузчики образцов позволяют автоматизировать процесс измерения. Важной частью современного дифрактометра является детектор. Решения от Bruker AXS включают в себя полный спектр дотельных позиционно-чувствительных 1D-детекторов семейства LYNXEYE и 2D-детекторов EIGER2R.

Основные преимущества:

• вертикальный Theta/Theta-гониометр;
• генератор мощностью 3 кВт;
• фиксированные или моторизованные щели и противорассеивающий ножевой коллиматор;
• автоматический переход от геометрии Брэгга-Брентано к параллельно-лучевой геометрии (зеркало Гебеля);
• твердотельные позиционно-чувствительные 1D детекторы серии LYNXEYE и 2D-детекторы серии EIGER2 R с возможностью работы в режимах 0D, 1D, 2D;
  
• координатные приставки для анализа текстур и остаточных макронапряжений совместимые с температурными приставками;
  
• загрузчик образцов: автосменщик на 9–90 позиций (опция);
  
• измерения при нестандартных условиях (температура, влажность, давление);
  
• гарантированная заводская юстировка;
  
• автоматическое распознавание компонентов дифрактометра;
  
• смена модулей рентгеновской оптики и платформ для образцов без инструментов и юстировки;
  
• полнопрофильный анализ методом Ритвельда с помощью программного обеспечения DIFFRAC.TOPAS;
  
• быстрое переключение между точечным и линейным фокусом рентгеновской трубки.
  

Применение прибора:

Анализ материалов электронной техники, исследования при нестандартных условиях (температура, давление, влажность, реакционные среды, электрическое поле), локальный (микро-)анализ, анализ функциональных покрытий, анализ тонких плёнок, наноматериалы, коллоидные жидкости, жидкие кристаллы, аморфные материалы, органические и биологические материалы, волокна, полимеры, наноструктурированные поверхности, мембраны.