D8 DISCOVER

Возможности рентгеновского дифрактометра D8 DISCOVER открывают новые перспективы в исследовании материалов во многих областях науки и техники. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач, в том числе для контроля качества, разработки новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро- и наноэлектроники. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для задач рефлектометрии и прецизионных исследований. Принципиально новая концепция построения модульных систем DAVINCI.DESIGN, которая применена в дифрактометре, существенно упрощает процесс конфигурирования прибора. Столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализа остаточных напряжений и текстуры. Для проведения измерений методом рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели. Зеркала Гебеля обеспечивают высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок.

Основные преимущества:

• вертикальный Theta/Theta- или горизонтальный Theta/2Theta-гониометр (максимальный диаметр – до 1080 мм);
• генератор мощностью 0,1–9 кВт;
• фиксированные или моторизованные щели и противорассеивающий ножевой коллиматор;
• автоматический переход от геометрии Брэгга-Брентано к параллельно-лучевой геометрии (зеркало Гебеля);
  
• твердотельные позиционно-чувствительные 1D детекторы серии LYNXEYE и 2D-детекторы серии EIGER2 R с возможностью работы в режимах 0D, 1D, 2D;
• координатные приставки для анализа текстур и остаточных макронапряжений совместимые с температурными приставками;
  
• возможность измерения крупногабаритных образцов;
  
• широкий выбор источников рентгеновского излучения: керамические отпаянные трубки, микрофокусные трубки, источники с вращающимся анодом;
  
• гарантированная заводская юстировка;
  
• автоматическое распознавание компонентов дифрактометра;
  
• смена модулей рентгеновской оптики и платформ для образцов без инструментов и юстировки;
  
• полнопрофильный анализ методом Ритвельда с помощью программного обеспечения DIFFRAC.TOPAS;
  
• быстрое переключение между точечным и линейным фокусом рентгеновской трубки.

Применение прибора:

Структурный и фазовый анализ, остаточные напряжения и текстурный анализ, высокоразрешающая рентгеновская дифракция, рентгеновская рефлектометрия, картирование обратного пространства, малоугловое рассеяние, некомпланарная дифракция, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, анализ материалов электронной техники, исследования при нестандартных условиях (температура, давление, влажность, реакционные среды, электрическое поле), локальный (микро-)анализ, анализ функциональных покрытий, анализ тонких плёнок, наноматериалы, коллоидные жидкости, жидкие кристаллы, аморфные материалы, органические и биологические материалы, волокна, полимеры, наноструктурированные поверхности, мембраны.