Каталог оборудования
Тэги
3D конфокальный профилометрАнализатор гальванических покрытийАнализатор покрытийАтомно-абсорбционный спектрометрИсследования в микроэлектроникеИсследовательский стереомикроскопКомплекс видеоизмерительный для микроскоповКонфокальный лазерный микроскопКонфокальный микроскопКриминалистикаЛазерный анализаторМасс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмойМеталлографический инвертированный исследовательский микроскопМеталлографический инвертированный исследовательский микроскоп Carl Zeiss Axiovert 5Металлографический стереомикроскопМинералогияМобильный спектрометрОптико-эмиссионный спектрометрОптико-эмиссионный спектрометр с ИСПОптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмойПетрографияПортативные анализаторыПортативный анализаторПортативный рентгенофлуоресцентный спектрометрПортативный спектрометрПресс для горячей заливкиПресс для металлографииПрограммное обеспечение автоматизированного анализаПрограммное обеспечение для микроскоповПрямой исследовательский инспекционный микроскопПрямой исследовательский микроскопПрямой исследовательский микроскопCarl Zeiss AxioscopeПрямой исследовательский поляризационный микроскопПрямой микроскоп HUND H600РФА анализаторыРентгенофлуоресцентный анализатор толщины покрытийСпектрометр оптико-эмиссионныйСтационарный рентгенофлуоресцентный анализатор покрытийСтереомикроскопТолщиномер покрытийанализ изображенийанализ концентрации растворовисследования в проходящем светеисследования минераловисследования рудотрезные станкипетрографиипрецизионные отрезные станкипрецинзионные отрезные станкиИсследовательский микроскоп
